SER a développé dès 1998 la technologie solderless des supports SER dédiés BGA/CSP
SUPPORTS DE TEST HAUTE FIABILITE
Supports de tests haute fiabilité pour boitiers BGA, LGA, CSP, MCM, QFP, PGA, QFN, MLF, LAP, POP, customs
Technologie probes et mini-probes pouvant atteindre jusqu’à 15 Ghz
Supports au pas de : 0.30, 0.40, 0.50, 0.65, 0.75, 0.80, 1.00, 1.27 mm
Supports de production manuels et pour handler automatique
Supports sur base flottante pouvant atteindre le million d’insertions
Supports standard, supports avec debug cap et supports customs
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